atom kuchi afm mikroskop
Atom kuch mikroskopi (AFM), qattiq materiallarning, shu jumladan izolyatorlarning sirt tuzilishini o'rganish uchun ishlatilishi mumkin bo'lgan analitik asbob.U moddaning sirt tuzilishi va xossalarini tekshirilayotgan namuna yuzasi bilan mikro kuchga sezgir element oʻrtasidagi oʻta zaif atomlararo taʼsirni aniqlash orqali oʻrganadi.Bir juft kuchsiz kuch juda sezgir mikro-konsol uchi sobit bo'ladi, kichik uchining boshqa uchi namunaga yaqin bo'ladi, keyin u bilan o'zaro ta'sir qiladi, kuch mikro-konsol deformatsiyasini yoki harakat holatini o'zgartiradi.Namunani skanerlashda sensor bu o'zgarishlarni aniqlash uchun ishlatilishi mumkin, biz nano-rezolyutsiya ma'lumotlarining sirt morfologiyasini va sirt pürüzlülüğü ma'lumotlarini olish uchun kuch ma'lumotlarining taqsimlanishini olishimiz mumkin.
★ Integratsiyalashgan skanerlash probi va namunali stag shovqinlarga qarshi qobiliyatini oshirdi.
★ Nozik lazer va probni joylashishni aniqlash moslamasi probni o'zgartirish va joyni sozlashni oddiy va qulay qiladi.
★ Namuna zondini yaqinlashish usulidan foydalanib, igna namunani skanerlashga perpendikulyar bo'lishi mumkin.
★ Avtomatik impulsli dvigatelni boshqarish namunasi probi vertikal yaqinlashib, skanerlash maydonining aniq joylashishiga erishish uchun.
★ Namunaviy skanerlash sohasi yuqori aniqlikdagi namunaviy mobil qurilma dizayni yordamida erkin harakatlanishi mumkin.
★ Optik joylashishni aniqlashga ega CCD kuzatuv tizimi real vaqt rejimida kuzatish va prob namunasini skanerlash maydonini joylashtirishga erishadi.
★ Modullashtirishning elektron boshqaruv tizimini loyihalash kontaktlarning zanglashiga olib texnik xizmat ko'rsatish va doimiy takomillashtirishga yordam berdi.
★ Bir nechta skanerlash rejimini boshqarish sxemasining integratsiyasi, dasturiy ta'minot tizimi bilan hamkorlik qilish.
★ Bahor suspenziyasi, bu oddiy va amaliy yaxshilangan shovqinlarga qarshi qobiliyat.
| Ish rejimi | FM-tapping, ixtiyoriy kontakt, ishqalanish, faza, magnit yoki elektrostatik |
| Hajmi | P≤90 mm,H≤20 mm |
| Skanerlash diapazoni | 20 mmmin XY yo'nalishi,Z yo'nalishida 2 mm. |
| Skanerlash ruxsati | XY yo'nalishi bo'yicha 0,2 nm,Z yo'nalishi bo'yicha 0,05 nm |
| Namuna harakat diapazoni | ±6,5 mm |
| Dvigatelning impuls kengligi yaqinlashadi | 10±2ms |
| Tasvir namuna olish nuqtasi | 256×256,512×512 |
| Optik kattalashtirish | 4X |
| Optik ruxsat | 2,5 mm |
| Skanerlash tezligi | 0,6 ~ 4,34 Gts |
| Skanerlash burchagi | 0°~360° |
| Skanerlashni boshqarish | XY yo'nalishi bo'yicha 18-bitli D/A,Z yo'nalishi bo'yicha 16 bitli D/A |
| Ma'lumotlardan namuna olish | 14-bitA / D,double16-bit A/D ko'p kanalli sinxron namuna olish |
| Fikr-mulohaza | DSP raqamli aloqa |
| Teskari aloqa namuna olish tezligi | 64,0 KHz |
| Kompyuter interfeysi | USB2.0 |
| Operatsion muhit | Windows98/2000/XP/7/8 |